以大面積均勻輻射面滿幅照射焦平面，在多個已知溫度點採集均勻場影象，提取每個像元的增益與偏置，標定響應率（SiTF）、非均勻性並識別盲元；多個溫度點的均勻輻射場，是提取每像元增益與偏置的基準。
作為均勻背景場測量噪聲等效溫差（NETD），評估熱靈敏度；配合差分黑體、平行光管與四杆靶測量最小可分辨溫差（MRTD）與調製傳遞函式（MTF），評估空間分辨力，並據此推算探測/識別/確認（DRI）作用距離。
提供低溫、高溫兩個空間均勻的參考輻射場，對成像系統做兩點校正，歸一各像元響應、抑制固定圖案噪聲（FPN）。這是對黑體均勻性與溫度穩定性要求最嚴苛的場景——基準場不均會被演算法永久寫入校正係數，形成不可逆偽影。
作為整機輻射定標基準或均勻背景場；配合平行光管將紅外靶標投射為無窮遠目標，支援紅外導引頭、光電吊艙、衛星載荷的系統級 MRTD/MTF、作用距離與多光軸一致性（boresight）測試。（真空 / 深低溫空間背景模擬需求，請諮詢我司真空低溫黑體產品線。）
| 指標參數 / Parameter | IBBE-100A/D | IBBE-200A/D | IBBE-300A/D | IBBE-400A/D | IBBE-500A/D |
|---|---|---|---|---|---|
| 輻射面積 (mm) | 100×100 | 200×200 | 300×300 | 400×400 | 500×500 |
| 絕對溫度範圍 | 0~100℃（可選擴充至 -40~+150℃） | ||||
| 差溫範圍（D 型號） | -25~+75℃ | ||||
| 發射率 | 0.98（典型值，≥0.97） | ||||
| 設定解析度 | 0.001℃（標配）/ 0.0001℃（高配） | ||||
| 控溫精度 | ±0.03℃ | ||||
| 溫度均勻性 * | 0.1℃ | 0.1℃ | 0.1℃ | 0.15℃ | 0.2℃ |
| 溫度穩定性 | ±0.003℃/10min | ||||
| 工作環境溫度 | 25±5℃ | ||||
| 電源 | 100~240VAC, 50/60Hz | ||||
| 遠端控制 | RS232 / RS485 / Ethernet | ||||
* 溫度均勻性指輻射面中心 90% 區域內的峰谷值（PV）。上表輻射面積與均勻性按 IBBE-100~500A/D 五型號列示。
本系列面源黑體作為紅外輻射基準源，服務於依據下列現行標準開展的紅外探測器與熱像儀測試；其溫度示值可經輻射溫度計檢定規程進行計量溯源。
注：上列標準定義紅外探測器 / 熱像儀的測試與計量方法，本產品作為配套輻射基準源使用，此處為應用關聯說明，非產品認證宣告。
在非均勻性校正（NUC）與焦平面探測器測試中，黑體輻射面被當作"理想均勻"的參考場來反推各像元差異。若黑體面存在溫度梯度，演算法會把黑體的不均誤判為探測器像元缺陷並寫入校正係數，產生不可逆的固定圖案噪聲。因此黑體均勻性須顯著優於被測系統要分辨的溫差量級。
發射率表徵輻射面接近理想黑體的程度。0.98 表示約 98% 的理想黑體輻射，配合精確控溫即可由溫度直接換算輻射量，作為可信的輻射基準，減少發射率不確定度引入的測量誤差。
可依據《工作用輻射溫度計檢定規程》（JJG 856-2015）等計量規程，透過更高等級的標準黑體或輻射溫度計進行計量溯源，確保溫度示值的準確與可追溯。
A 型提供單一可控溫度的均勻輻射面，適用於輻射定標、NUC、NETD 等；D 型可同時控制目標與背景兩個溫度、形成精確溫差 ΔT，配合靶標與平行光管用於 MRTD、MTF 等分辨力測試。
本頁規格為典型配置參考，涵蓋型號 400A/D·500A/D、0.0001℃ 高配解析度、工作溫度、電源、19 寸機櫃式控制器、低溫防冷凝選配等。不同專案的測試物件、溫區、介面和自動化配置可能存在差異，完整選型資料請聯絡應用工程師獲取。
應用工程師將在 3 個工作日內回覆 — 標準採購 / 產線整合 / 定製研發。
