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IBBE系列高精度面源黑體，針對科研級的紅外測試應用，提供多種尺寸的輻射面以適應不同的測試場景，如:紅外焦平面探測器研製過程中的工藝和技術指標測試、配合紅外靶標和平行光管完成紅外熱像儀關鍵技術指標的測試和效能評估，同時還可用於紅外成像系統的均勻性校正等。

IBBE-L高精度低溫黑體，針對紅外測試應用中的低溫輻射需求，提供-40℃到+150℃的絕對溫度輻射，無風扇設計降低對周圍環境影響，低溫抗冷凝技術保證輻射特性準確無誤。

IBBE-H 系列高溫面源黑體是一款高穩定性和均勻性的高溫紅外輻射源，提供 50~600℃ 高溫紅外輻射，是紅外成像系統高溫溫度曲線校準和均勻性校正應用中的必要裝置。

IBBE-C系列高溫腔式黑體，具備關機降溫保護功能，提供最高1250℃的高穩定性、高發射率紅外輻射，主要用於紅外相對光譜響應測試和高溫測溫儀的校準。

IBBE-P 系列可攜式黑體主要用於光電成像系統生產過程中的均勻性校正和溫度曲線校準，可長時間線上穩定工作，安裝使用方便、效能良好，也可用於多種人體測溫儀的快速線上校準，防止溫度漂移。

IBBE-M 系列黑體矩陣系統由多個獨立控溫的黑體組成，可同時對多個紅外焦平面探測器進行快速均勻性校正，也可快速對紅外成像系統的溫度曲線進行校準，提高紅外成像系統生產測試效率和吞吐量。

IRDT 紅外焦平面探測器測試系統為器件級探測器測試系統，覆蓋響應率、噪聲、NETD、非均勻性、盲元率、串擾、FPN、像元光譜響應等測試能力。

IRDT-P系列探測器生產測試系統針對探測器生產測試場景，提供智慧化和自動化的測試解決方案，支援使用者各種定製功能開發和一鍵測試，助力成品探測器高效精準的流水線檢測。

輻射源經單色儀分光或傅立葉邁克爾遜干涉光照射於探測器，透過採集卡採集探測器光譜響應輸出，系統自動獲得歸一化相對光譜曲線。

IRCM 系列紅外熱像儀綜合測試裝置主要面向紅外整機的成像參數測試，是按照中長波紅外整機及短波紅外整機評估測試要求開發的紅外整機自動測試裝置。適用於紅外焦平面探測器、熱像儀 NETD、可分辨溫差 MRTD、最小分辨溫差 MDTD、調製傳遞函式 MTF、光軸一致性、畸變、輻射響應等綜合參數測試。

IRCM-D雙黑體熱像儀綜合測試系統採用雙黑體輻射架構，突破傳統單黑體平行光管的侷限，透過整合大面源高精度背景黑體（0.1mK溫控），實現目標-背景溫度獨立可調，為紅外測試提供更真實的複雜熱場模擬能力。

IRCM-P可攜式紅外熱像儀測試系統，體積小重量輕，整合靶標和黑體控制，用於外場便捷光軸一致性、NETD和MRTD等測試。

採用一體化極低熱膨脹係數材料結構，整機可在-40℃~+60℃高低溫環境艙內與被測裝置共同工作，用於評估不同環境溫度下被測裝置的高低溫環境適應性參數。

融合黑體紅外輻射與積分球可見近紅外輻射光，透過調整背景與目標輻射，模擬不同對比度和不同溫差下的融合影象效能，並評價對比度、平均梯度、標準差、資訊熵、解析度及MROF綜合指標。

IRCM-AC光電自準直儀主要用於高精度二維角度變化的測量、形位偏差檢測、光學儀器裝校等。

成都盈盛源電氣科技公司可定製用於紅外系統測試的各種靶標，採用精密機加工及蝕刻、雷射切割工藝，靶標正面為高發射率塗層，靶盤背面為高反射率金屬表面。