專業 · 光電效能測試解決方案提供商

光電成像系統製造商
溫度校準源與效能測試
專業解決方案。

為光電成像系統製造商提供專業的溫度校準源和光電效能測試解決方案。以黑體輻射源、紅外焦平面探測器測試系統、熱像儀綜合測試系統為核心，服務研發、生產與出廠檢驗。

檢視產品中心 → 提交測試需求
Founded
成都 · 郫都區
Focus
光電測試
Product Lines
3 系列 · 16 型號
SCROLL
01關於盈盛源/ ABOUT

專業從事光電領域產品研發的
高新技術企業。

成都盈盛源電氣科技有限公司（IES）專注紅外焦平面探測器與熱像儀整機的測試、校準與綜合效能評估裝備研發， 為光電成像系統製造商提供器件級和整機級測試解決方案，並可根據使用者要求定製研發通用型和自動生產型測試系統。

盈盛源紅外/光電測試與校準實驗室 紅外 / 光電測試與校準實驗室 · 成都郫都區

公司位於成都郫都區，是一家專業從事光電領域產品研發的高新技術企業。主營業務是為光電成像系統製造商提供器件級和整機級測試解決方案，並可根據使用者要求定製研發通用型和自動生產型測試系統。

"主要產品包括黑體系列產品、紅外焦平面探測器測試系統和紅外熱像儀測試系統。"

公司面向科研院所、工業企業、高校與計量機構等應用場景，提供光電測試與校準相關產品和解決方案。

PRODUCT MATRIX
16型號
3 大系列 · IBBE 黑體 / IRDT 探測器 / IRCM 熱像儀
QUALIFICATIONS
8項資質
高新技術企業、專精特新及質量管理體系等
PARTNERS
30+傢伙伴
合作伙伴與應用單位展示
R&D STAFF
10人
專業從事光電領域產品研發
TEMPERATURE
-40~ 600℃
黑體覆蓋低溫 / 標準 / 高溫全段
RESOLUTION
0.001℃
IBBE-A/S/D 高精度面源黑體解析度
02技術原理/ TEST CHAIN

一條完整的紅外測試鏈路 —
從已知溫度基準到量化效能指標。

盈盛源覆蓋測試鏈路的每一環：以黑體提供已知溫度基準輻射，經器件測試模擬無窮遠目標，激勵被測探測器或熱像儀，再由高速採集與演算法還原並量化 NETD / MRTD / MTF 等關鍵指標。

Stage 01

黑體輻射源

Reference Blackbody
IBBE 系列
→ 提供 0.001℃ 解析度、已知溫度的基準紅外輻射
Stage 02

器件測試系統

Collimating Optics
紅外焦平面探測器
→ 將輻射準直為平行光，模擬無窮遠目標
Stage 03

整機評估

Device Under Test
紅外熱像儀系統
→ 焦平面探測器或熱像儀整機接收並響應
Stage 04

資料採集與處理

Acquisition & DSP
多通道 · GPU
→ 高速多通道採集，GPU 加速還原數字影象
Stage 05

指標輸出

Performance Metrics
NETD/MRTD/MTF
→ 量化 NETD / MRTD / MDTD / MTF / 光軸 / 畸變
溫度覆蓋Temperature
-40℃ ~ 600℃
-40℃
0℃ · 便攜/面源
400℃ · 高溫
600℃
光譜覆蓋Spectral
0.4μm ~ 25.6μm
0.4 · VIS
NIR
MWIR
LWIR
25.6μm
03產品矩陣/ PRODUCT MATRIX

3 大系列 · 16 個型號 ·
覆蓋紅外測試全鏈路。

從黑體輻射源到焦平面探測器測試，再到熱像儀整機綜測 — 模組化、可定製。

IBBE · 黑體輻射源系列

SERIES · BLACKBODY RADIATION SOURCE
高精度面源 · 可攜式 · 高溫擴充至 600℃ · 大幅面矩陣陣列 — 紅外測試的"溫度尺"。
IBBE-A/S/D 高精度面源黑體
IBBE-A/S/D

高精度面源黑體

High-Accuracy Extended Area Blackbody
EMITTING
100 / 200 / 300mm
TEMP RANGE
0 ~ 100℃
RESOLUTION
0.001℃
EMISSIVITY
0.99 ± 0.02
探測器測試熱像儀校準RS232/485/Eth
IBBE-P 可攜式黑體
IBBE-P

可攜式黑體

Portable Blackbody
EMITTING
50 / 70 / 100 / 150mm
TEMP RANGE
0 ~ 99.99℃
ACCURACY
0.1℃
STABILITY
±0.01℃ / 10min
現場快速校準人體測溫
IBBE-H 高溫面源黑體
IBBE-H

高溫面源黑體

High Temperature Extended Area Blackbody
EMITTING
100 ~ 300mm
TEMP RANGE
30 ~ 400℃
EXTENDED
可選配至 600℃
RESOLUTION
0.1℃
高溫場景外接溫度模擬器
IBBE-M 黑體矩陣系統
IBBE-M

黑體矩陣系統

Blackbody Matrix System
EMITTING
300 / 700mm
MATRIX
3×3 / 5×5 / 6×6
UNIFORMITY
≤ ±0.1℃
STABILITY
±0.05℃ / 30min
非均勻性校正多視場標定MRTD/MTF
IBBE-C 高溫腔式黑體
IBBE-C

高溫腔式黑體

High-Temperature Cavity Blackbody
APERTURE
Ø25 / Ø50mm
TEMP RANGE
100 ~ 1250℃
EMISSIVITY
> 0.99
REMOTE
RS232 / Eth
關機降溫保護光譜響應測試高溫測溫校準
IBBE-L 高精度低溫黑體
IBBE-L

高精度低溫黑體

High-Accuracy Low-Temperature Blackbody
TEMP RANGE
-40 ~ +150℃
EMISSIVITY
> 0.99
DESIGN
無風扇
TECH
低溫抗冷凝
低溫輻射定標抗冷凝技術

IRDT · 紅外焦平面探測器測試系列

SERIES · IR FPA DETECTOR TEST
器件級 → 產品級 → 光譜響應 — 覆蓋 HgCdTe / InSb / VOx / Type-II 超晶格 / InGaAs 等主流材料。
IRDT 紅外焦平面探測器測試系統
IRDT

紅外焦平面探測器測試系統

Infrared Focal Plane Array Detectors Test System
LEVEL
器件級 Detector
STANDARDS
GB/T 17444 · EMVA-1288
PARAMS
NETD / FPN / 盲元
MATERIALS
MCT / InSb / VOx
響應率噪聲非均勻性串擾
IRDT-P 紅外探測器生產測試系統
IRDT-P

紅外探測器生產測試系統

Product Level Detector Test System
BIAS
6 ~ 64 通道
CLOCK
±25V · 200KHz
NOISE
< 120μV
DIGITAL
Camera Link / LVDS
GPU 加速大幅面模組化擴充
IRDT-SP 探測器相對光譜響應測試系統
IRDT-SP

探測器相對光譜響應測試系統

Detector Relative Spectral Response Testing System
SPECTRAL
0.4 ~ 14μm
EXTENDED
可至 25.6μm
RESOLUTION
1nm
REPEATABILITY
99.5%
傅立葉變換單色儀雙分光3D 光譜
DEFINED BY YOU

面向探測器廠商的定製化能力。

Custom test stations for HgCdTe, InSb, Type-II SLS, QWIPs, InGaAs, VOx production lines.

IRCM · 紅外熱像儀綜合測試系列

SERIES · THERMAL IMAGER COMPREHENSIVE TEST
標準 · 雙黑體 · 便攜 · 高低溫 · 多光譜融合 — 整機級 NETD / MRTD / MDTD / MTF / 光軸 / 畸變全參數。
IRCM 標準型綜合測試裝置
IRCM

標準型綜合測試裝置

Thermal Imaging System Comprehensive Test Equipment
APERTURE
Ø150 ~ Ø480mm
FOCAL
1500 ~ 4800mm
OPTICS
離軸反射式 PV λ/4
PARAMS
NETD/MRTD/MTF
5/12/14 張靶板差分黑體Camera Link
IRCM-D 雙黑體綜合測試裝置
IRCM-D

雙黑體綜合測試裝置

Dual Blackbody Comprehensive Test Equipment
APERTURE
Ø300mm
FOCAL
3000mm · 2.7° FOV
RANGE
-5 ~ +85℃
UNIFORMITY
0.005℃ / 30min
雙背景測試差分積分球
IRCM-P 可攜式綜合測試裝置
IRCM-P

可攜式綜合測試裝置

Portable Comprehensive Test Equipment
APERTURE
Ø120mm
FOCAL
400mm · 2.2° FOV
OPERATING
-40℃ ~ +50℃
FORM
一體化整合
外場便攜背景模型現場移植
IRCM-T 高低溫綜合測試裝置
IRCM-T

高低溫綜合測試裝置

High & Low Temperature Test Equipment
APERTURE
Ø300mm
FOCAL
3000mm · 4.6° FOV
RANGE
-40℃ ~ +50℃
MIRROR
熱穩定玻璃
環境整機測試超低系統溫變
IRCM-F 多光譜融合成像效能測試裝置
IRCM-F

多光譜融合成像效能測試裝置

Multi-optical Fusion Imaging Performance Testing Equipment
APERTURE
Ø300mm
FOCAL
2000mm · 2.7° FOV
SPECTRAL
0.4μm ~ 15μm
BANDS
VIS · NIR · MWIR · LWIR · UV
多模式成像評估多光譜組合背景環境振動模擬
IRCM-AC 光電自準直儀
IRCM-AC

光電自準直儀

Photoelectric Autocollimator
FUNCTION
二維角度測量
DETECT
形位偏差檢測
APPLY
光學儀器裝校
TYPE
高精度光電式
角度測量形位檢測光學裝校
靶標 紅外測試靶標
靶標

紅外測試靶標

Infrared Test Targets
MIN WIDTH
≥ 0.15mm
TOLERANCE
±0.02mm
PROCESS
蝕刻 / 雷射切割
TYPES
5+ 種靶型
四杆/十字/狹縫靶高發射率塗層
04應用場景/ APPLICATIONS

圍繞探測器、熱像儀與計量實驗室 —
覆蓋紅外測試多類應用場景。

面向器件級測試、整機級測試、計量校準、外場便攜和科研/產線整合等場景組織產品應用。

紅外焦平面探測器測試場景
SCENE / 01

紅外焦平面探測器測試

HgCdTe / InSb / VOx / Type-II 超晶格 / InGaAs — 響應率、噪聲、NETD、盲元率、串擾、光譜響應。

裝置：IRDT / IRDT-P / IRDT-SP
熱像儀整機綜合測試場景
SCENE / 02

熱像儀整機綜合測試

NETD / MRTD / MDTD / MTF / 光軸一致性 / 畸變 / 輻射響應 — 標準、雙黑體、高低溫多場景覆蓋。

裝置：IRCM / IRCM-D / IRCM-T
計量與標準化定標場景
SCENE / 03

計量院/標準化定標

0.001℃ 解析度黑體輻射源，支撐國家計量傳遞、第三方校準與標準化檢測實驗室。

裝置：IBBE-A/S/D · IBBE-M
外場便攜校準場景
SCENE / 04

外場便攜校準

-40℃ ~ +50℃ 工況、可攜式一體化機箱，機場、邊檢、海事、應急救援現場快速校準。

裝置：IBBE-P · IRCM-P
高校科研與產線整合場景
SCENE / 05

高校科研與產線整合

支援高校、科研院所與行業企業在研發驗證、實驗測試和產線整合中的多類應用需求。

裝置：IRDT-P · 定製 OEM
SCENE / 06

多光譜融合 / 軍民兩用

可見光 · 近紅外 · 中波 · 長波 · 紫外 — IRCM-F 多光譜融合效能測試，面向新型光電載荷與跨波段融合系統。

裝置：IRCM-F
05資質與合作/ TRUST

資質與合作伙伴展示

公司持續建設研發、質量與管理體系能力，並與科研院所、工業企業、高校和計量機構等保持多類合作。

資質 / Qualifications
  • Q01國家高新技術企業（2020）
  • Q02四川省"專精特新"中小企業（2023）
  • Q03ISO9001 質量管理體系認證
  • Q04ISO14001 環境管理體系認證
  • Q05ISO45001 職業健康安全管理體系認證
  • Q06成都高新區瞪羚企業 · 瞪羚領軍企業
  • Q07公司創業計劃入選 成都市"RP 計劃" · 四川省"SQ 計劃"
  • Q08核心創業團隊入選 四川省"天府峨眉計劃"頂尖創新創業團隊
合作伙伴與應用單位 / Partners & Application Units
06開始合作/ CONTACT

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無論是單臺標準裝置採購、產線整合、還是面向新型探測器的定製研發 — 我們的應用工程師將在 3 個工作日內回覆。

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