利用 0.01″ 解析度與 0.5″ 精度的 CCD 讀數結構，對工件或光學元件在俯仰與方位方向的微小角度變化進行非接觸採集；典型場景包括精密軸承迴轉精度、光學元件面內傾角以及長導軌直線度推算中的角度基量。
結合六維精密調節臺，對平面度、垂直度、平行度等形位公差專案進行檢測；透過多次位姿切換與重複測量（重複精度 0.5″），評估工件在不同方位的角度偏移量，為形位偏差的判定提供量化依據。
在光學元件與整機裝配階段，以自準直反射的方式讀取被裝配件的姿態角，配合六維調節與資料分析軟體完成光路對中、反射鏡姿態標定、平行光管零位校準等裝校任務，是光學裝校臺的標準讀數裝置之一。
| 指標參數 / Parameter | IRCM-AC400 |
|---|---|
| 口徑 / Aperture | Φ50mm |
| 焦距 / Focal Length | 400mm |
| CCD 面陣規模 / CCD Area Array Size | 2156 × 1440 @4μm |
| 解析度 / Resolution | 0.01″ |
| 精度 / Accuracy | 0.5″ |
| 重複精度 / Repeated Accuracy | 0.5″ |
IRCM-AC 面向二維角度量值的高精度測量、形位偏差檢測與光學儀器裝校，其角度示值可透過更高等級的角度基準（如多面稜體、光學分度頭、自準直儀檢定裝置）進行計量溯源；下方僅作功能性說明。
注：此處為應用關聯與計量溯源說明，非產品認證宣告；具體校準方案以貴方計量體系與專案要求為準。
不是。解析度 0.01″ 表示 CCD 讀數系統對角點位移的最小可分辨單位，描述的是讀數細度；精度 0.5″ 是綜合光學系統誤差、讀數演算法與機械結構後的角度量值最大允許誤差，描述的是量值可信度。兩者通常相差 1~2 個量級，需配合使用，解析度高不代表精度也高。
重複精度 0.5″ 表示在同一測量條件下、對同一被測物件多次裝夾/對準後讀數的一致性偏差不超過 0.5″。它是評估自準直儀能否在批次檢測或裝校產線上穩定工作的關鍵指標，IRCM-AC400 標稱 0.5″，適合對一致性要求較高的裝校與形位檢測場景。
自準直測量要求被測面法線儘量接近儀器光軸，否則大角度入射會帶來餘弦誤差並降低量值可信度。六維調節可在 X/Y/Z 平移與俯仰/方位/滾動三軸旋轉上對工件姿態做精細調整，把工作點調到儀器最佳量程範圍內，是 0.5″ 精度檔實測可達的硬體前提。
配套軟體一般承擔角度序列採集、統計（均值/標準差/極差）、時序曲線回放與匯出等功能，便於裝校與形位檢測資料留痕與回溯；具體功能項以隨裝置釋出版本為準。
本頁規格為典型配置參考。不同專案的測試物件、溫區、介面和自動化配置可能存在差異，完整選型資料請聯絡應用工程師獲取。
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