面向 HgCdTe、InSb、Type-II 超晶格、QWIPs、InGaAs、VOx、非晶硅等材料的焦平面阵列器件，开展噪声、响应率、NETD、盲元率、响应率非均匀性、探测率、FPN、非线性度与相对光谱响应等指标的器件级综合评价，输出研发与量产准入所需的性能报告。
对单元、线列与面阵探测器在器件级与像元级进行精细化表征，配合多通道同步采集与像素级数据重组，提取像元分布规律、坏点与串扰等参数，为探测器工艺迭代、像元结构优化与材料选型提供数据支撑。
| 指标参数 / Parameter | IRDT（基础型） | IRDT（扩展型） |
|---|---|---|
| 测试对象等级 | 器件级（Detector-Level） | 器件级（Detector-Level） |
| 探测器规模 | 点焦 / 线列 / 中小面阵 | 面阵，含 8192×8192 及以上超大规模 |
| 波长覆盖 | SWIR / MWIR / LWIR | SWIR / MWIR / LWIR + 可见光（EMVA1288） |
| 探测器材料 | HgCdTe; InSb; Type-II SL; QWIPs; InGaAs; VOx; a-Si | HgCdTe; InSb; Type-II SL; QWIPs; InGaAs; VOx; a-Si |
| 系统噪声 | < 100μV | |
| 偏压电源通道数 | 4 / 8 / 12 / 16 | 最多 64 路 |
| 偏压输出电压档位 | -16V / +6V / +10V / +24V | -16V / +6V / +10V / +24V |
| 偏压输出最大电流 | 100mA / 150mA / 500mA / 3A | 100mA / 150mA / 500mA / 3A |
| 偏压电源保护 | 限流限定；电压 / 电流 / 噪声实时监控 | |
| 时钟驱动通道数 | 8 / 16 / 32 | 8 / 16 / 32（可扩展） |
| 数据采集 | 多通道同步采集，像素级数据重组 | 多通道同步采集，像素级数据重组 |
| 图像处理 | 实时成像、伪彩、缩放、旋转、直方图、负片、波列图 | 实时成像、伪彩、缩放、旋转、直方图、负片、波列图 + GPU 加速 |
| 校正能力 | 两点 / 单点校正、参数存储与调用、盲元剔除、直方图校正 | 两点 / 单点校正、参数存储与调用、盲元剔除、直方图校正 |
| 扩展测试 | 相对光谱响应、NETD、盲元、非均匀性、探测率、FPN、非线性度 | + 量子效率、动态范围、NEI、暗电流、SNR、串扰 / MTF、半成品测试 |
| 可见光 EMVA1288 扩展 | 基础型不支持 / 扩展型支持 | |
| 上位模式 | 开发工程师模式 / 操作员模式 | |
| 参照标准 | GB/T 17444-2013 | GB/T 17444-2013; EMVA-1288; GB/T 41310-2022 |
* 上表 IRDT「基础型 / 扩展型」：基础型为默认电学配置；扩展型支持 64 路偏压 / GPU 加速 / EMVA1288 可见光扩展。材料兼容性、波长覆盖、偏压档位与电流档位见技术规格表。
IRDT 红外焦平面探测器测试系统面向红外焦平面阵列的器件级参数测试，可依据国家与行业现行标准开展性能评价与计量校准，下列为可对应的标准条目与典型应用。
注：以上为应用关联与计量溯源说明，涉及 GB/T 17444-2013、EMVA-1288 与 GB/T 41310-2022。实际测试方案与具体校准链以贵方计量体系与项目要求为准。
IRDT 属于器件级（Detector-Level）红外焦平面探测器综合测试系统，区别于整机 / 整机系统级测试。它直接面向 FPA 器件本身，提供噪声、响应率、NETD、盲元率、非均匀性、探测率、FPN、非线性度、相对光谱响应等指标的电学驱动 + 辐射激励 + 数据采集 + 校正与处理的一体化方案。
红外焦平面探测器自身的输出信号通常十分微弱，系统本底噪声直接决定了 NETD、可探测率、暗电流等小信号指标的可信测量下限。< 100μV 的系统本底可显著降低测量链对探测器自身噪声的掩盖，配合锁相、积分与平均手段，能够在小信号区间获得可靠的噪声与响应率统计。
可以。系统以多通道同步采集 + 像素级数据重组 + GPU 加速图像处理为支撑，定位为面向 8192×8192 及以上超大规模 FPA 的整系统测试解决方案。实际可达的帧率、数据带宽与上位存储，取决于具体配置与上位硬件规模，需按项目需求评估。
EMVA-1288 可见光测试为扩展功能。是否纳入标配以贵方项目选型为准；本系统已具备相应的偏压驱动、同步采集与校正基础，可作为扩展项按需启用。
本页规格为典型配置参考。不同项目的测试对象、温区、接口和自动化配置可能存在差异，完整选型资料请联系应用工程师获取。
应用工程师将在 3 个工作日内回复 — 标准采购 / 产线集成 / 定制研发。
