首页/产品矩阵/IRDT 红外焦平面探测器测试/IRDT-P
IRDT-P
IRDT-P 红外探测器生产测试系统
IRDT-P · IRDT 系列

红外探测器生产测试系统

Product Level Detector Test System

产品定位 / Product Positioning

IRDT-P 系列探测器生产测试系统针对成品探测器生产测试场景,提供智能化、自动化的测试解决方案,支持用户各种定制功能开发和一键测试,助力成品探测器高效精准的流水线检测。系统噪声 <150μV,兼容支持任意材料、面阵和波段的红外探测器的驱动、采集与测试,提供一键测试、定制测试报告与结果自动导入数据库,并支持 TEC 控温、自动 OCC 与实时成像等能力。具体测试场景见下方应用案例。

应用案例 / Applications

成品探测器生产测试

Finished Detector Production Test

面向探测器下线环节,依据 GB/T 17444 对噪声、响应率、NETD、盲元率、响应率非均匀性、探测率、固定图像噪声、非线性度等参数进行一键测试,测试结果自动导入数据库,结合权限模式实现产线高效、可追溯的质量判级。

流水线检测

Production Line Inspection

提供智能化的自动化测试方案与一键测试能力,支持用户定制功能开发与自定义算法,针对大批量成品探测器进行流水线式快速、精准检测,提升产线节拍与一次合格率。

产品级成像探测器测试

Product-Level Imaging Detector Test

兼容主流材料、面阵和波段的红外探测器,集成 TEC 控温、自动 OCC、实时成像能力,可在统一平台完成制冷型 / 非制冷型、面阵 / 线阵等不同产品级成像探测器的驱动、采集与综合性能评估。

技术规格 / Specifications

指标参数 / ParameterPage 09 配置集Page 10 配置集
偏置电源路数与输出4~64 路; ±6V / ±10V / ±24V≤16 路; 0~6V 标配,2/4 路可改 0~12V
偏置电源电流档位100mA / 150mA / 500mA / 3A50mA / 100mA
时钟驱动器32 路; -2V~+6V; 32mA; 200MHz16 路(8 路一组); 1.8V / 3.3V / 5V; 30mA; 100MHz
模拟采集通道8~64 路; 16-bit标配 4 路,可扩 8 路; 16-bit
模拟采集采样率20MHz / 40MHz / 80MHz10MHz / 20MHz
模拟采集量程±1V / ±2V / ±5V / ±10V3.3V 标配量程
数字采集接口Camera-Link; LVDS 32/64 最高 720MHz; TTL/CMOS 32/64 最高 720MHz4/8 路标配,可选 16 路; 1.8V / 3.3V / 5V TTL; 单通道最高 100MHz
面源黑体口径100×100mm² / 200×200mm²100×100mm² / 150×150mm² 或其他
面源黑体温度与分辨率0~100℃; 0.001℃0~100℃; 0.01℃ / 0.001℃ 可选
积分球参数0.4~2.5μm; 1~30000cd/m²; 50~100mm; 可配合单色仪用于 VIS/SWIR未列
系统噪声<150μV
系统级能力TEC 控温 / 自动 OCC / 实时成像 / 一键测试 / 数据库自动导入 / 权限模式 / 用户自定义算法开发
应用层级产品级 / Production level

说明:本表按两套可选配置集并排呈现,对应不同的偏置电源 / 时钟驱动器 / 模拟与数字采集 / 面源黑体 / 积分球组合。系统噪声 <150μV、TEC 控温 / 自动 OCC / 实时成像 / 一键测试 / 数据库 / 权限模式 / 自定义算法等系统级能力为两套配置共有。

设备特点 / Equipment Features

系统噪声 <150μV
兼容主流材料、面阵与波段红外探测器的驱动、采集与测试
一键测试、定制测试报告、结果自动导入数据库
TEC 控温、自动 OCC、实时成像
噪声、响应率、NETD、盲元率、响应率非均匀性、探测率、固定图像噪声、非线性度
用户自定义算法开发与权限模式管理

选型与扩展 / Options

01
偏置电源通道数与电压档位按 page 09 / page 10 两套配置集可选,覆盖 4~64 路及 ±6V / ±10V / ±24V 等不同电平
02
模拟采集通道数(4~64 路)、采样率(10~80MHz)、量程(3.3V / ±1~10V)可按被测探测器带宽与路数灵活配置
03
数字采集接口支持 Camera-Link / LVDS / TTL/CMOS,最高 720MHz 或 100MHz,可对接面阵 / 线阵探测器
04
面源黑体口径 100×100 / 150×150 / 200×200mm² 多规格可选,温度分辨率 0.001℃ / 0.01℃ 可选
05
积分球 0.4~2.5μm、1~30000cd/m²,可配合单色仪用于 VIS / SWIR 段响应测试(page 09 配置集)
06
软件支持一键测试、定制测试报告、结果自动导入数据库、权限模式与用户自定义算法开发

标准与计量 / Standards & Metrology

本系统面向成品红外探测器生产测试,依据 GB/T 17444 提供噪声、响应率、NETD、盲元率、响应率非均匀性、探测率、固定图像噪声、非线性度等参数的一键测试与数据自动入库;测试结果可通过系统级溯源方式对接企业计量体系。

GB/T 17444
红外焦平面阵列参数测试方法(系统测试依据)
系统级参数测试
噪声、响应率、NETD、盲元率、响应率非均匀性、探测率、固定图像噪声、非线性度
生产测试流程
一键测试 → 定制报告 → 数据库自动导入,结合权限模式与用户自定义算法

注:此处为应用关联与测试参数说明,非产品认证声明;具体测试项目、合格判据与计量溯源以贵方生产质量体系与项目要求为准。

常见问题 / FAQ

IRDT-P 与实验室级探测器测试系统有何差异?

IRDT-P 定位为产品级 / Production level,面向成品探测器下线与流水线检测,强调一键测试、定制报告、结果自动导入数据库、权限模式与用户自定义算法开发,强调节拍与可追溯;实验室级系统更偏研究性测量与参数扫描。两者在硬件平台、采集通道与面源黑体等核心模块上具有共性,但生产测试场景对自动化、可重复性与数据接入的要求更高。

系统级一键测试覆盖哪些关键指标?

依据 GB/T 17444 体系,IRDT-P 一键测试覆盖噪声、响应率、NETD、盲元率、响应率非均匀性、探测率、固定图像噪声、非线性度等关键参数,并自动生成定制报告、写入数据库;具体测试项与合格判据由用户在权限模式下按生产质量体系配置。

偏置电源、模拟 / 数字采集等核心模块如何选型?

提供两套可选配置集,通道数(4~64 路)、电压档位(±6V / ±10V / ±24V 或 0~6V / 0~12V)、采样率(10~80MHz)、数字接口(Camera-Link / LVDS / TTL/CMOS 等)按需配置,根据被测探测器类型、通道数与带宽确定最终方案。

系统噪声 <150μV 在产线中意味着什么?

系统噪声是测试系统本底噪声的上限,<150μV 表示在常规增益与带宽下系统引入的噪声足够低,可在不显著拉低探测器真实 NETD 的前提下完成产线测温与响应率测试,避免因测试系统本底过强而误判良品的可能性。

同系列产品 / IRDT Series

产品资料 / Product Information

本页规格为典型配置参考。不同项目的测试对象、温区、接口和自动化配置可能存在差异,完整选型资料请联系应用工程师获取。

需要 IRDT-P 的详细方案?

应用工程师将在 3 个工作日内回复 — 标准采购 / 产线集成 / 定制研发。

技术咨询 / Technical Inquiry →
联系我们
联系我们
电话028-8437 8986电话139-1024-4012邮箱sales@iescd.com
服务时间 · 工作日 09:00-18:00
在线咨询 →
\n\n\n\n