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IBBE系列高精度面源黑体，针对科研级的红外测试应用，提供多种尺寸的辐射面以适应不同的测试场景，如:红外焦平面探测器研制过程中的工艺和技术指标测试、配合红外靶标和平行光管完成红外热像仪关键技术指标的测试和性能评估，同时还可用于红外成像系统的均匀性校正等。

IBBE-L高精度低温黑体，针对红外测试应用中的低温辐射需求，提供-40℃到+150℃的绝对温度辐射，无风扇设计降低对周围环境影响，低温抗冷凝技术保证辐射特性准确无误。

IBBE-H 系列高温面源黑体是一款高稳定性和均匀性的高温红外辐射源，提供 50~600℃ 高温红外辐射，是红外成像系统高温温度曲线校准和均匀性校正应用中的必要设备。

IBBE-C系列高温腔式黑体，具备关机降温保护功能，提供最高1250℃的高稳定性、高发射率红外辐射，主要用于红外相对光谱响应测试和高温测温仪的校准。

IBBE-P 系列便携式黑体主要用于光电成像系统生产过程中的均匀性校正和温度曲线校准，可长时间在线稳定工作，安装使用方便、性能良好，也可用于多种人体测温仪的快速在线校准，防止温度漂移。

IBBE-M 系列黑体矩阵系统由多个独立控温的黑体组成，可同时对多个红外焦平面探测器进行快速均匀性校正，也可快速对红外成像系统的温度曲线进行校准，提高红外成像系统生产测试效率和吞吐量。

IRDT 红外焦平面探测器测试系统为器件级探测器测试系统，覆盖响应率、噪声、NETD、非均匀性、盲元率、串扰、FPN、像元光谱响应等测试能力。

IRDT-P系列探测器生产测试系统针对探测器生产测试场景，提供智能化和自动化的测试解决方案，支持用户各种定制功能开发和一键测试，助力成品探测器高效精准的流水线检测。

辐射源经单色仪分光或傅里叶迈克尔逊干涉光照射于探测器，通过采集卡采集探测器光谱响应输出，系统自动获得归一化相对光谱曲线。

IRCM 系列红外热像仪综合测试设备主要面向红外整机的成像参数测试，是按照中长波红外整机及短波红外整机评估测试要求开发的红外整机自动测试装置。适用于红外焦平面探测器、热像仪 NETD、可分辨温差 MRTD、最小分辨温差 MDTD、调制传递函数 MTF、光轴一致性、畸变、辐射响应等综合参数测试。

IRCM-D双黑体热像仪综合测试系统采用双黑体辐射架构，突破传统单黑体平行光管的局限，通过集成大面源高精度背景黑体（0.1mK温控），实现目标-背景温度独立可调，为红外测试提供更真实的复杂热场模拟能力。

IRCM-P便携式红外热像仪测试系统，体积小重量轻，集成靶标和黑体控制，用于外场便捷光轴一致性、NETD和MRTD等测试。

采用一体化极低热膨胀系数材料结构，整机可在-40℃~+60℃高低温环境舱内与被测设备共同工作，用于评估不同环境温度下被测设备的高低温环境适应性参数。

融合黑体红外辐射与积分球可见近红外辐射光，通过调整背景与目标辐射，模拟不同对比度和不同温差下的融合图像性能，并评价对比度、平均梯度、标准差、信息熵、分辨率及MROF综合指标。

IRCM-AC光电自准直仪主要用于高精度二维角度变化的测量、形位偏差检测、光学仪器装校等。

成都盈盛源电气科技公司可定制用于红外系统测试的各种靶标，采用精密机加工及蚀刻、激光切割工艺，靶标正面为高发射率涂层，靶盘背面为高反射率金属表面。