辐射源经单色仪分光或傅里叶迈克尔逊干涉光照射于探测器，采集卡同步采集探测器光谱响应输出，系统自动获得归一化相对光谱曲线，评价单元 / 非制冷 / 制冷 / 多色等红外探测器对各波长的选择性。
在相对光谱响应平台基础上扩展量子效率测试模块，对探测器在各波长下的光电转换效率进行定量化评价，支撑探测器研制与筛选。
系统可进一步用于光学镜片透过率与偏振特性测试，同一平台拓展至光学元件评价，降低多套测试装置的采购与运维成本。
| 指标参数 / Parameter | IRDT-SP |
|---|---|
| 光谱范围 | 0.4μm ~ 18μm |
| 光谱分辨率 | 1nm |
| 测试重复性 | 99.5% |
| 分光方式 | 单色仪分光 ／ 傅里叶迈克尔逊干涉 |
| 辐射源 | 1200℃ 腔式黑体 ／ 1000℃ 腔式黑体 ／ IR 光源 ／ 紫外-可见-近红外光源 |
| 傅里叶波段（参考） | 8000 ~ 350 cm⁻¹ |
| 电信号链 | 锁相放大器 ／ 斩波器 ／ 前置放大器 ／ 滤波器 ／ 滤光片轮 |
| 采集与控制 | 数据采集卡同步采集，系统自动给出归一化相对光谱曲线 |
| 适用探测器 | 单元探测器、非制冷探测器、制冷探测器、多色探测器 |
| 可扩展测试 | 量子效率扩展测试 ／ 光学镜片透过率测试 ／ 偏振测试 |
* 光谱分辨率 1nm。辐射源配置（1200℃/1000℃ + IR + 紫外-可见-近红外），傅里叶波段 8000~350 cm⁻¹。
本系统用于红外探测器相对光谱响应评价、量子效率扩展测试、光学镜片透过率与偏振测试，所产出的归一化相对光谱响应曲线可与器件筛选、料参数(掺杂、缺陷)分析对接；系统作为评价装置使用，其辐射源与电信号链可按贵方计量体系进行溯源。
注：此处为应用关联与计量溯源说明，非产品认证声明；具体校准方案以贵方计量体系与项目要求为准。
单色仪方案适合高光谱分辨率（如 1nm 量级）的逐波长扫描测，适合评价器件光谱选择性与材料特性；傅里叶方案在中远红外宽谱段具有通量优势，适合快速获取宽谱响应曲线。两者可按待测器件谱段与测试效率需求组合配置。
主要光学器件采用业界顶尖供应商方案，配合锁相放大器、斩波器、前置放大器、滤波器与滤光片轮构成的稳定电信号链，由采集卡同步采集并在软件中自动归一化，从而在多次重复测量中保持高一致性。
可以。系统支持多色探测器的 3D 光谱测试，能在波长-响应-通道维度上给出三维响应分布，用于多色 / 凝视型器件的谱间一致性评价。
在相对光谱响应平台之上，可扩展量子效率测试、光学镜片透过率测试与偏振测试；电信号链中的锁相、斩波、滤光片等模块对这几类测试同样适用，便于在同一平台完成多类评价。
本页规格为典型配置参考。不同项目的测试对象、温区、接口和自动化配置可能存在差异，完整选型资料请联系应用工程师获取。
应用工程师将在 3 个工作日内回复 — 标准采购 / 产线集成 / 定制研发。
