輻射源經單色儀分光或傅立葉邁克爾遜干涉光照射於探測器，採集卡同步採集探測器光譜響應輸出，系統自動獲得歸一化相對光譜曲線，評價單元 / 非製冷 / 製冷 / 多色等紅外探測器對各波長的選擇性。
在相對光譜響應平臺基礎上擴充量子效率測試模組，對探測器在各波長下的光電轉換效率進行定量化評價，支撐探測器研製與篩選。
系統可進一步用於光學鏡片透過率與偏振特性測試，同一平臺拓展至光學元件評價，降低多套測試裝置的採購與運維成本。
| 指標參數 / Parameter | IRDT-SP |
|---|---|
| 光譜範圍 | 0.4μm ~ 18μm |
| 光譜解析度 | 1nm |
| 測試重複性 | 99.5% |
| 分光方式 | 單色儀分光 ／ 傅立葉邁克爾遜干涉 |
| 輻射源 | 1200℃ 腔式黑體 ／ 1000℃ 腔式黑體 ／ IR 光源 ／ 紫外-可見-近紅外光源 |
| 傅立葉波段（參考） | 8000 ~ 350 cm⁻¹ |
| 電訊號鏈 | 鎖相放大器 ／ 斬波器 ／ 前置放大器 ／ 濾波器 ／ 濾光片輪 |
| 採集與控制 | 資料採集卡同步採集，系統自動給出歸一化相對光譜曲線 |
| 適用探測器 | 單元探測器、非製冷探測器、製冷探測器、多色探測器 |
| 可擴充測試 | 量子效率擴充測試 ／ 光學鏡片透過率測試 ／ 偏振測試 |
* 光譜解析度 1nm。輻射源配置（1200℃/1000℃ + IR + 紫外-可見-近紅外），傅立葉波段 8000~350 cm⁻¹。
本系統用於紅外探測器相對光譜響應評價、量子效率擴充測試、光學鏡片透過率與偏振測試，所產出的歸一化相對光譜響應曲線可與器件篩選、料參數(摻雜、缺陷)分析對接；系統作為評價裝置使用，其輻射源與電訊號鏈可按貴方計量體系進行溯源。
注：此處為應用關聯與計量溯源說明，非產品認證宣告；具體校準方案以貴方計量體系與專案要求為準。
單色儀方案適合高光譜解析度（如 1nm 量級）的逐波長掃描測，適合評價器件光譜選擇性與材料特性；傅立葉方案在中遠紅外寬譜段具有通量優勢，適合快速獲取寬譜響應曲線。兩者可按待測器件譜段與測試效率需求組合配置。
主要光學器件採用業界頂尖供應商方案，配合鎖相放大器、斬波器、前置放大器、濾波器與濾光片輪構成的穩定電訊號鏈，由採集卡同步採集並在軟體中自動歸一化，從而在多次重複測量中保持高一致性。
可以。系統支援多色探測器的 3D 光譜測試，能在波長-響應-通道維度上給出三維響應分佈，用於多色 / 凝視型器件的譜間一致性評價。
在相對光譜響應平臺之上，可擴充量子效率測試、光學鏡片透過率測試與偏振測試；電訊號鏈中的鎖相、斬波、濾光片等模組對這幾類測試同樣適用，便於在同一平臺完成多類評價。
本頁規格為典型配置參考。不同專案的測試物件、溫區、介面和自動化配置可能存在差異，完整選型資料請聯絡應用工程師獲取。
應用工程師將在 3 個工作日內回覆 — 標準採購 / 產線整合 / 定製研發。
