利用 4×4 ／ 5×5 矩陣的多工位並行結構，將多隻紅外焦平面探測器同步置於獨立控溫面源前，配合統一溫度設定與統一啟動功能，一次出溫即可完成多隻探測器的響應均勻性評估，顯著提升產線節拍。
多工位獨立控溫黑體輸出已知溫度面源，可對紅外熱像儀 / 成像系統在 0~100℃ 量程內的測溫曲線進行快速標定；HMI 實時顯示每工位 ST（設定溫度）／PT（過程溫度）與到量狀態，便於流程化批次測試。
矩陣化多工位結構與一鍵批次下發模式，將多臺成像系統在同一輪溫度迴圈中並行測試，相較單工位序列方案可大幅壓縮單臺測試時間，顯著提升紅外成像系統生產測試效率與整體吞吐量。
| 指標參數 / Parameter | IBBE-5044M | IBBE-5055M | IBBE-7533M |
|---|---|---|---|
| 輻射面積 / Emitter Size | 50mm × 50mm | 50mm × 50mm | 75mm × 75mm |
| 輻射面規模 / Emitter Scale | 4 × 4 | 5 × 5 | 3 × 3 |
| 絕對溫度範圍 / Absolute Temperature Range | 0℃ ~ 100℃ | 0℃ ~ 100℃ | 0℃ ~ 100℃ |
| 輻射率 / Emissivity | >0.95 | >0.95 | >0.95 |
| 設定解析度 / Resolution | 0.01℃ | 0.01℃ | 0.01℃ |
| 測溫精度 / Accuracy | 0.1℃ | 0.1℃ | 0.1℃ |
| 溫度均勻性 / Temperature Uniformity | <0.1℃ | <0.1℃ | <0.1℃ |
| 溫度穩定性 / Temperature Stability | ±0.05℃/10min | ±0.05℃/10min | ±0.05℃/10min |
| 電源 / Power Supply | 220VAC / 50Hz | 220VAC / 50Hz | 220VAC / 50Hz |
| 遠端控制 / Remote Control | RS232 | RS232 | RS232 |
注：以上規格按 IBBE-5044M / IBBE-5055M / IBBE-7533M 三型號列示。客戶系統介面圖為應用佐證素材，不構成對協議版本、韌體版本或遠端介面型別的承諾。
本產品作為多工位紅外面源基準，應用於紅外焦平面探測器均勻性校正與紅外成像系統溫度曲線標定，可依據紅外探測器/焦平面參數測試方法體系與輻射溫度計量規程進行溫度示值的計量溯源。
注：此處為應用關聯與計量溯源說明，非產品認證宣告；具體校準方案以貴方計量體系與專案要求為準。
單工位面源黑體一次只能對一臺探測器或一臺紅外成像系統進行測試；黑體矩陣（如 IBBE-M 的 3×3 ／ 4×4 ／ 5×5 陣列）提供多個獨立控溫面源，可同時對多臺探測器或成像系統進行並行測試，按下「統一溫度設定／統一啟動」即可批次下發溫度並檢視各工位到量狀態，從而顯著壓縮單臺測試時間，提升產線吞吐量。
三個型號的核心差異在單輻射面尺寸與陣列規模：IBBE-5044M（50×50mm × 4×4）與 IBBE-5055M（50×50mm × 5×5）適合中小像面探測器批次並行測試，IBBE-7533M（75×75mm × 3×3）適合大像面探測器或對單面源面積有更高要求的場景。其它指標（溫度範圍、發射率、解析度、精度、均勻性、穩定性）在三型號間一致。
均勻性 <0.1℃ 表示單塊面源在有效輻射面內不同位置的溫度偏差小於 0.1℃，可保障多像元探測器在整面取樣的溫度一致性；穩定性 ±0.05℃/10min 表示在 10 分鐘內控溫漂移不超過 ±0.05℃，保證批次測試期間每工位溫度面源在長時間工作中仍保持可追溯的示值穩定。
可以。IBBE-M 系列支援按需定製輻射面尺寸與陣列規模，便於匹配特殊探測器陣列、定製工位數或非標像面尺寸的需求；具體規格可聯絡盈盛源技術團隊按應用場景評估。
本頁規格為典型配置參考。不同專案的測試物件、溫區、介面和自動化配置可能存在差異，完整選型資料請聯絡應用工程師獲取。
應用工程師將在 3 個工作日內回覆 — 標準採購 / 產線整合 / 定製研發。
