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IRDT-P
IRDT-P 紅外探測器生產測試系統
IRDT-P · IRDT 系列

紅外探測器生產測試系統

Product Level Detector Test System

產品定位 / Product Positioning

IRDT-P 系列探測器生產測試系統針對成品探測器生產測試場景,提供智慧化、自動化的測試解決方案,支援使用者各種定製功能開發和一鍵測試,助力成品探測器高效精準的流水線檢測。系統噪聲 <150μV,相容支援任意材料、面陣和波段的紅外探測器的驅動、採集與測試,提供一鍵測試、定製測試報告與結果自動匯入資料庫,並支援 TEC 控溫、自動 OCC 與實時成像等能力。具體測試場景見下方應用案例。

應用案例 / Applications

成品探測器生產測試

Finished Detector Production Test

面向探測器下線環節,依據 GB/T 17444 對噪聲、響應率、NETD、盲元率、響應率非均勻性、探測率、固定影象噪聲、非線性度等參數進行一鍵測試,測試結果自動匯入資料庫,結合許可權模式實現產線高效、可追溯的質量判級。

流水線檢測

Production Line Inspection

提供智慧化的自動化測試方案與一鍵測試能力,支援使用者定製功能開發與自定義演算法,針對大批次成品探測器進行流水線式快速、精準檢測,提升產線節拍與一次合格率。

產品級成像探測器測試

Product-Level Imaging Detector Test

相容主流材料、面陣和波段的紅外探測器,整合 TEC 控溫、自動 OCC、實時成像能力,可在統一平臺完成製冷型 / 非製冷型、面陣 / 線陣等不同產品級成像探測器的驅動、採集與綜合效能評估。

技術規格 / Specifications

指標參數 / ParameterPage 09 配置集Page 10 配置集
偏置電源路數與輸出4~64 路; ±6V / ±10V / ±24V≤16 路; 0~6V 標配,2/4 路可改 0~12V
偏置電源電流檔位100mA / 150mA / 500mA / 3A50mA / 100mA
時鐘驅動器32 路; -2V~+6V; 32mA; 200MHz16 路(8 路一組); 1.8V / 3.3V / 5V; 30mA; 100MHz
模擬採集通道8~64 路; 16-bit標配 4 路,可擴 8 路; 16-bit
模擬採集取樣率20MHz / 40MHz / 80MHz10MHz / 20MHz
模擬採集量程±1V / ±2V / ±5V / ±10V3.3V 標配量程
數字採集介面Camera-Link; LVDS 32/64 最高 720MHz; TTL/CMOS 32/64 最高 720MHz4/8 路標配,可選 16 路; 1.8V / 3.3V / 5V TTL; 單通道最高 100MHz
面源黑體口徑100×100mm² / 200×200mm²100×100mm² / 150×150mm² 或其他
面源黑體溫度與解析度0~100℃; 0.001℃0~100℃; 0.01℃ / 0.001℃ 可選
積分球參數0.4~2.5μm; 1~30000cd/m²; 50~100mm; 可配合單色儀用於 VIS/SWIR未列
系統噪聲<150μV
系統級能力TEC 控溫 / 自動 OCC / 實時成像 / 一鍵測試 / 資料庫自動匯入 / 許可權模式 / 使用者自定義演算法開發
應用層級產品級 / Production level

說明:本表按兩套可選配置集並排呈現,對應不同的偏置電源 / 時鐘驅動器 / 模擬與數字採集 / 面源黑體 / 積分球組合。系統噪聲 <150μV、TEC 控溫 / 自動 OCC / 實時成像 / 一鍵測試 / 資料庫 / 許可權模式 / 自定義演算法等系統級能力為兩套配置共有。

裝置特點 / Equipment Features

系統噪聲 <150μV
相容主流材料、面陣與波段紅外探測器的驅動、採集與測試
一鍵測試、定製測試報告、結果自動匯入資料庫
TEC 控溫、自動 OCC、實時成像
噪聲、響應率、NETD、盲元率、響應率非均勻性、探測率、固定影象噪聲、非線性度
使用者自定義演算法開發與許可權模式管理

選型與擴充 / Options

01
偏置電源通道數與電壓檔位按 page 09 / page 10 兩套配置集可選,覆蓋 4~64 路及 ±6V / ±10V / ±24V 等不同電平
02
模擬採集通道數(4~64 路)、取樣率(10~80MHz)、量程(3.3V / ±1~10V)可按被測探測器頻寬與路數靈活配置
03
數字採集介面支援 Camera-Link / LVDS / TTL/CMOS,最高 720MHz 或 100MHz,可對接面陣 / 線陣探測器
04
面源黑體口徑 100×100 / 150×150 / 200×200mm² 多規格可選,溫度解析度 0.001℃ / 0.01℃ 可選
05
積分球 0.4~2.5μm、1~30000cd/m²,可配合單色儀用於 VIS / SWIR 段響應測試(page 09 配置集)
06
軟體支援一鍵測試、定製測試報告、結果自動匯入資料庫、許可權模式與使用者自定義演算法開發

標準與計量 / Standards & Metrology

本系統面向成品紅外探測器生產測試,依據 GB/T 17444 提供噪聲、響應率、NETD、盲元率、響應率非均勻性、探測率、固定影象噪聲、非線性度等參數的一鍵測試與資料自動入庫;測試結果可透過系統級溯源方式對接企業計量體系。

GB/T 17444
紅外焦平面陣列參數測試方法(系統測試依據)
系統級參數測試
噪聲、響應率、NETD、盲元率、響應率非均勻性、探測率、固定影象噪聲、非線性度
生產測試流程
一鍵測試 → 定製報告 → 資料庫自動匯入,結合許可權模式與使用者自定義演算法

注:此處為應用關聯與測試參數說明,非產品認證宣告;具體測試專案、合格判據與計量溯源以貴方生產質量體系與專案要求為準。

常見問題 / FAQ

IRDT-P 與實驗室級探測器測試系統有何差異?

IRDT-P 定位為產品級 / Production level,面向成品探測器下線與流水線檢測,強調一鍵測試、定製報告、結果自動匯入資料庫、許可權模式與使用者自定義演算法開發,強調節拍與可追溯;實驗室級系統更偏研究性測量與參數掃描。兩者在硬體平臺、採集通道與面源黑體等核心模組上具有共性,但生產測試場景對自動化、可重複性與資料接入的要求更高。

系統級一鍵測試覆蓋哪些關鍵指標?

依據 GB/T 17444 體系,IRDT-P 一鍵測試覆蓋噪聲、響應率、NETD、盲元率、響應率非均勻性、探測率、固定影象噪聲、非線性度等關鍵參數,並自動生成定製報告、寫入資料庫;具體測試項與合格判據由使用者在許可權模式下按生產質量體系配置。

偏置電源、模擬 / 數字採集等核心模組如何選型?

提供兩套可選配置集,通道數(4~64 路)、電壓檔位(±6V / ±10V / ±24V 或 0~6V / 0~12V)、取樣率(10~80MHz)、數字介面(Camera-Link / LVDS / TTL/CMOS 等)按需配置,根據被測探測器型別、通道數與頻寬確定最終方案。

系統噪聲 <150μV 在產線中意味著什麼?

系統噪聲是測試系統本底噪聲的上限,<150μV 表示在常規增益與頻寬下系統引入的噪聲足夠低,可在不顯著拉低探測器真實 NETD 的前提下完成產線測溫與響應率測試,避免因測試系統本底過強而誤判良品的可能性。

同系列產品 / IRDT Series

產品資料 / Product Information

本頁規格為典型配置參考。不同專案的測試物件、溫區、介面和自動化配置可能存在差異,完整選型資料請聯絡應用工程師獲取。

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