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按测试对象选型指南
红外焦平面探测器测试：如果您需要评估探测器芯片或焦平面的响应率、噪声、NETD、非均匀性、盲元率、串扰、FPN、像元光谱响应等指标，请选择IRDT 红外焦平面探测器测试系统。适用于探测器器件级性能测试与材料评价。
红外热像仪整机测试：如果您需要测试热像仪整机的成像质量，包括NETD、可分辨温差（MRTD）、最小分辨温差（MDTD）、调制传递函数（MTF）、光轴一致性、畸变、辐射响应等，请选择IRCM 系列红外热像仪综合测试设备。支持中长波与短波红外整机评估。
辐射校准与均匀性校正：如果您需要稳定的红外辐射源用于探测器工艺测试、热像仪性能评估或成像系统均匀性校正，请选择IBBE 系列高精度面源黑体。提供多种辐射面尺寸（如100mm、200mm、300mm等），适配不同测试场景。
标定与靶标：如果您需要配合平行光管进行MRTD/MTF标定，定制红外测试靶标提供精密机加工、蚀刻、激光切割工艺，正面高发射率涂层，背面高反射率金属表面。
| 测试对象 | 推荐产品 | 典型测试参数 | 应用阶段 |
|---|---|---|---|
| 红外焦平面探测器 | IRDT 探测器测试系统 | 响应率、噪声、NETD、非均匀性、盲元率、串扰、FPN、像元光谱响应 | 器件研发与工艺评价 |
| 红外热像仪整机 | IRCM 综合测试设备 | NETD、MRTD、MDTD、MTF、光轴一致性、畸变、辐射响应 | 整机出厂与评估 |
| 辐射源/校准 | IBBE 高精度面源黑体 | 辐射均匀性、温度稳定性（具体参数见产品页） | 探测器/热像仪校准与均匀性校正 |
| 标定附件 | 红外测试靶标 | MRTD/MTF标定 | 系统集成与标定 |
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常见问题 FAQ
如何选择探测器测试系统与热像仪测试设备？
如果测试对象是焦平面探测器芯片（裸片或封装），使用IRDT 探测器测试系统；如果测试对象是已经集成光学镜头的热像仪整机，使用IRCM 综合测试设备。两者测试参数不同，不可互换。
面源黑体的辐射面尺寸如何选择？
IBBE系列提供IBBE-100A/D、IBBE-200A/D、IBBE-300A/D等型号（100mm、200mm、300mm面源），具体尺寸选择取决于被测光路口径与距离。更大辐射面覆盖更大视场，适合大口径或阵列探测器。详细参数请查看产品页。
定制靶标是否可以配合IRCM使用？
可以。定制靶标常与平行光管配合，用于IRCM设备进行MRTD/MTF标定。靶标正面高发射率涂层确保红外背景均匀，背面高反射避免杂散干扰。详情可咨询盈盛源客服。