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按測試物件選型指南
紅外焦平面探測器測試：如果您需要評估探測器晶片或焦平面的響應率、噪聲、NETD、非均勻性、盲元率、串擾、FPN、像元光譜響應等指標，請選擇IRDT 紅外焦平面探測器測試系統。適用於探測器器件級效能測試與材料評價。
紅外熱像儀整機測試：如果您需要測試熱像儀整機的成像質量，包括NETD、可分辨溫差（MRTD）、最小分辨溫差（MDTD）、調製傳遞函式（MTF）、光軸一致性、畸變、輻射響應等，請選擇IRCM 系列紅外熱像儀綜合測試裝置。支援中長波與短波紅外整機評估。
輻射校準與均勻性校正：如果您需要穩定的紅外輻射源用於探測器工藝測試、熱像儀效能評估或成像系統均勻性校正，請選擇IBBE 系列高精度面源黑體。提供多種輻射面尺寸（如100mm、200mm、300mm等），適配不同測試場景。
標定與靶標：如果您需要配合平行光管進行MRTD/MTF標定，定製紅外測試靶標提供精密機加工、蝕刻、雷射切割工藝，正面高發射率塗層，背面高反射率金屬表面。
| 測試物件 | 推薦產品 | 典型測試參數 | 應用階段 |
|---|---|---|---|
| 紅外焦平面探測器 | IRDT 探測器測試系統 | 響應率、噪聲、NETD、非均勻性、盲元率、串擾、FPN、像元光譜響應 | 器件研發與工藝評價 |
| 紅外熱像儀整機 | IRCM 綜合測試裝置 | NETD、MRTD、MDTD、MTF、光軸一致性、畸變、輻射響應 | 整機出廠與評估 |
| 輻射源/校準 | IBBE 高精度面源黑體 | 輻射均勻性、溫度穩定性（具體參數見產品頁） | 探測器/熱像儀校準與均勻性校正 |
| 標定附件 | 紅外測試靶標 | MRTD/MTF標定 | 系統整合與標定 |
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常見問題 FAQ
如何選擇探測器測試系統與熱像儀測試裝置？
如果測試物件是焦平面探測器晶片（裸片或封裝），使用IRDT 探測器測試系統；如果測試物件是已經整合光學鏡頭的熱像儀整機，使用IRCM 綜合測試裝置。兩者測試參數不同，不可互換。
面源黑體的輻射面尺寸如何選擇？
IBBE系列提供IBBE-100A/D、IBBE-200A/D、IBBE-300A/D等型號（100mm、200mm、300mm面源），具體尺寸選擇取決於被測光路口徑與距離。更大輻射面覆蓋更大視場，適合大口徑或陣列探測器。詳細參數請檢視產品頁。
定製靶標是否可以配合IRCM使用？
可以。定製靶標常與平行光管配合，用於IRCM裝置進行MRTD/MTF標定。靶標正面高發射率塗層確保紅外背景均勻，背面高反射避免雜散干擾。詳情可諮詢盈盛源客服。