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研发阶段测什么
红外焦平面探测器器件级性能测试包括以下关键参数：响应率、噪声、NETD、非均匀性、盲元率、串扰、FPN（固定图案噪声）以及像元光谱响应。这些参数直接反映探测器材料质量、像元工艺水平和读出电路性能。盈盛源IRDT红外焦平面探测器测试系统可覆盖上述全部测试项目，支持自动化数据采集与分析。
02
测试链路怎么搭
典型的探测器测试链路包含以下几部分：辐射源（高精度面源黑体或单色仪）、光学准直与靶标、探测器夹具与偏置电路、数据采集卡与信号处理。根据测试参数不同，链路配置有所差异：
- 对于响应率、NETD、非均匀性等常规性能，使用IBBE系列高精度面源黑体作为均匀辐射源，配合探测器测试系统直接测量。
- 对于光谱响应测试，需搭建探测器相对光谱响应测试系统，利用单色仪或傅里叶干涉仪提供连续波长辐射。
- 对于空间参数如串扰、MTF，可使用红外测试靶标与平行光管配合。
- 对于光学对准和角度测量，IRCM-AC光电自准直仪可用于精密装校。
完整的测试系统由盈盛源提供一体化集成方案，详情可咨询联系我们。
03
怎么选型
选型需综合考虑被测探测器类型（制冷/非制冷）、波长范围、面阵规模、测试精度要求及预算：
- 黑体选型：IBBE系列提供多种尺寸辐射面，以适应不同光学口径和测试场景。对于小面阵探测器，可选择较小尺寸；对于大面阵或配合平行光管，需更大尺寸。具体尺寸请参考产品详情页IBBE面源黑体。
- 测试系统选型：IRDT探测器测试系统为标准配置，支持常见参数测试。若需扩展光谱响应测试，可搭配光谱响应系统。
- 辅助设备选型：根据测试需求可选配靶标、自准直仪等。如需高精度对准，强烈推荐自准直仪。
盈盛源提供全系列测试设备及定制服务，欢迎联系获取专业选型建议。
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常见问题 FAQ
如何选择黑体的辐射面尺寸？
根据被测探测器的光学口径和测试距离选择。通常，黑体辐射面应略大于探测器光阑或像元阵列投影。盈盛源IBBE系列提供多种尺寸（详见产品页），工程师可根据实际光路计算所需尺寸，或联系盈盛源技术支持获得推荐。
光谱响应测试系统能否单独使用？
可以。IRDT-SP光谱响应系统是一套独立测试系统，可用于探测器相对光谱响应测试，也可扩展为量子效率测试。它同样适用于光学镜片透过率和偏振测试。若需要与常规性能测试结合，可集成到统一软件平台。