紅外成像測試系統 - 按測試需求精準選型

各品類均基於IRCM平臺開發，共享模組化光機與測控架構。具體差異體現在：
- 綜合測試裝置：單黑體平行光管架構，覆蓋NETD、MRTD、MDTD、MTF、光軸一致性等十餘項參數。
- 雙黑體測試裝置：採用大面源高精度背景黑體與目標黑體獨立控溫，實現背景-目標溫差連續可調，適用於複雜場景模擬。
- 高低溫測試裝置：整機採用極低熱膨脹係數材料，與高低溫環境艙整合，在被測裝置工作溫度範圍內考核成像質量漂移。
- 多光融合測試裝置：引入積分球可見-近紅外輻射源，與紅外輻射同光路疊加，支援對比度、梯度、熵、解析度及MROF綜合評價。

各裝置在輻射源架構、環境適應性及測試指標上存在顯著差異。以下從功能維度對比：
- 輻射源數量：綜合測試單黑體；雙黑體測試雙黑體（目標+背景）；高低溫測試單黑體（配合環境艙）；多光融合測試黑體+積分球。
- 典型測試參數：綜合測試側重NETD/MRTD/MTF/畸變；雙黑體側重溫差響應線性度、背景噪聲抑制；高低溫側重溫度漂移、MRTD隨溫度變化；多光融合側重對比度、梯度、資訊熵、MROF。
- 適用場景廣度：綜合測試覆蓋最通用；雙黑體和多光融合面向特定模擬與評價；高低溫專注環境試驗。