01
研發階段測什麼
紅外焦平面探測器器件級效能測試包括以下關鍵參數：響應率、噪聲、NETD、非均勻性、盲元率、串擾、FPN（固定圖案噪聲）以及像元光譜響應。這些參數直接反映探測器材料質量、像元工藝水平和讀出電路效能。盈盛源IRDT紅外焦平面探測器測試系統可覆蓋上述全部測試專案，支援自動化資料採集與分析。
02
測試鏈路怎麼搭
典型的探測器測試鏈路包含以下幾部分：輻射源（高精度面源黑體或單色儀）、光學準直與靶標、探測器夾具與偏置電路、資料採集卡與訊號處理。根據測試參數不同，鏈路配置有所差異：
- 對於響應率、NETD、非均勻性等常規效能，使用IBBE系列高精度面源黑體作為均勻輻射源，配合探測器測試系統直接測量。
- 對於光譜響應測試，需搭建探測器相對光譜響應測試系統，利用單色儀或傅立葉干涉儀提供連續波長輻射。
- 對於空間參數如串擾、MTF，可使用紅外測試靶標與平行光管配合。
- 對於光學對準和角度測量，IRCM-AC光電自準直儀可用於精密裝校。
完整的測試系統由盈盛源提供一體化整合方案，詳情可諮詢聯絡我們。
03
怎麼選型
選型需綜合考慮被測探測器型別（製冷/非製冷）、波長範圍、面陣規模、測試精度要求及預算：
- 黑體選型：IBBE系列提供多種尺寸輻射面，以適應不同光學口徑和測試場景。對於小面陣探測器，可選擇較小尺寸；對於大面陣或配合平行光管，需更大尺寸。具體尺寸請參考產品詳情頁IBBE面源黑體。
- 測試系統選型：IRDT探測器測試系統為標準配置，支援常見參數測試。若需擴充光譜響應測試，可搭配光譜響應系統。
- 輔助裝置選型：根據測試需求可選配靶標、自準直儀等。如需高精度對準，強烈推薦自準直儀。
盈盛源提供全系列測試裝置及定製服務，歡迎聯絡獲取專業選型建議。
04
常見問題 FAQ
如何選擇黑體的輻射面尺寸？
根據被測探測器的光學口徑和測試距離選擇。通常，黑體輻射面應略大於探測器光闌或像元陣列投影。盈盛源IBBE系列提供多種尺寸（詳見產品頁），工程師可根據實際光路計算所需尺寸，或聯絡盈盛源技術支援獲得推薦。
光譜響應測試系統能否單獨使用？
可以。IRDT-SP光譜響應系統是一套獨立測試系統，可用於探測器相對光譜響應測試，也可擴充為量子效率測試。它同樣適用於光學鏡片透過率和偏振測試。若需要與常規效能測試結合，可整合到統一軟體平臺。