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高精度面源黑體 ， 科研級紅外測試與校準
IBBE系列高精度面源黑體針對紅外焦平面探測器研製過程中的工藝和技術指標測試、配合紅外靶標和平行光管完成紅外熱像儀關鍵技術指標測試和效能評估，以及紅外成像系統的均勻性校正場景設計。提供多種輻射面尺寸，適配不同視場與空間解析度需求。
典型用途：紅外焦平面探測器測試、紅外熱像儀校準、成像系統均勻性校正。詳情請訪問 高精度面源黑體產品頁。
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高溫面源黑體 ， 高溫溫度曲線校準
IBBE-H系列高溫面源黑體是一款高穩定性和均勻性的高溫紅外輻射源，專為紅外成像系統高溫溫度曲線校準和均勻性校正而設計。適用於需要高溫段精確參照的紅外測試場景，如熱像儀高溫段效能評估、輻射測溫裝置校驗等。
更多資訊請檢視 高溫面源黑體產品頁。
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高精度低溫黑體 ， 低溫輻射定標與目標模擬
IBBE-L高精度低溫黑體滿足紅外測試中的低溫輻射需求，採用無風扇設計降低對周圍環境影響，並搭載低溫抗冷凝技術保證輻射特性準確無誤。典型應用於低溫紅外輻射定標及低溫目標模擬，是紅外系統低溫效能驗證的關鍵裝置。
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