01
校準鏈路概覽
輻射量值溯源通常分為三級：一次標準黑體（固定點黑體）作為國家基準，二次標準黑體（如盈盛源高精度面源黑體）用於實驗室傳遞，工作用黑體（高溫/低溫黑體）直接服務於產線或現場測試。盈盛源產品線覆蓋後兩級，使用者可根據被測物件的目標溫區與口徑靈活選型。
02
高精度面源黑體 ， 常溫基準與均勻性校正
IBBE系列高精度面源黑體提供多種輻射面尺寸（如100 mm、200 mm、300 mm），適用於紅外焦平面探測器的工藝測試、與紅外靶標及平行光管配合完成熱像儀關鍵指標評估，以及紅外成像系統的均勻性校正。該系列是實驗室常溫段（典型溫區）的優選基準源。
推薦選型：根據探測器或熱像儀靶面大小選擇對應輻射面尺寸。詳情可參考 IBBE-A系列產品頁。
推薦選型：根據探測器或熱像儀靶面大小選擇對應輻射面尺寸。詳情可參考 IBBE-A系列產品頁。
03
高溫面源黑體 ， 高溫溫度曲線校準
IBBE-H系列高溫面源黑體專為紅外成像系統的高溫段溫度曲線校準設計，具備高穩定性和均勻性。型號覆蓋100H、150H、200H、300H，對應不同輻射面尺寸。適用於熱像儀考核點溫度校準及均勻性校正。
選型提示：高溫校準需關注輻射面尺寸與被測光闌的匹配。具體參數請查閱 IBBE-H系列產品頁。
選型提示：高溫校準需關注輻射面尺寸與被測光闌的匹配。具體參數請查閱 IBBE-H系列產品頁。
04
高精度低溫黑體 ， 低溫輻射定標
IBBE-L系列高精度低溫黑體滿足低溫紅外輻射定標與低溫目標模擬需求。採用無風扇設計，降低對流擾動；內建低溫抗冷凝技術，保證低背景下的輻射特性準確。適用於低溫紅外探測器標定及環境模擬測試。
選型建議：根據最低目標溫度和腔體尺寸選擇。詳細資訊參見 IBBE-L系列產品頁。
選型建議：根據最低目標溫度和腔體尺寸選擇。詳細資訊參見 IBBE-L系列產品頁。
05
綜合測試裝置 ， 整機成像參數評估
IRCM系列紅外熱像儀綜合測試裝置整合NETD、MRTD、MDTD、MTF、光軸一致性、畸變、輻射響應等參數測試能力，專為中長波及短波紅外整機而開發。配合上述黑體輻射源，可完成從單點溫度校準到空間頻率響應的全面評估。
更多內容請訪問 IRCM系列產品頁。
更多內容請訪問 IRCM系列產品頁。
07
常見問題 FAQ
黑體輻射源如何進行溯源？
推薦將盈盛源黑體定期送至具備資質的第三方計量機構，透過固定點黑體或標準輻射溫度計進行比對校準。具體流程可參閱 黑體校準溯源專題。
不同尺寸的黑體輻射面如何選擇？
主要依據被測裝置的光學口徑和測試距離。通常要求黑體輻射面完全覆蓋被測視場。盈盛源提供100 mm至300 mm等多種尺寸，具體選型可諮詢 銷售代表。
高溫黑體與低溫黑體能否組合使用？
可以。高溫黑體負責高溫段校準，低溫黑體負責低溫段定標，兩者配合可覆蓋完整的溫度曲線。實驗室通常需同時配備兩臺獨立控溫的黑體。
綜合測試裝置是否需要單獨配置黑體？
IRCM系列內部已整合輻射源介面，但使用者仍可外接盈盛源黑體進行多溫度點校準。系統支援自動切換溫度點，實現多點輻射響應測試。